X-ray Diffraction

X光繞射儀

 

 

 

 

 

 


 

本實驗室的繞射儀型號為D2 PHASER,其規格與儀器照片如下:

(表一)、儀器規格

Measuring Circle Diameters

141 mm

Operation Position

Vertical

Max. angular range

-3° to 160 ° in 2theta

X-ray wavelength

Cr/Co/Cu/Mo standard sealed tube

X-ray power

300W, 20Kv, 10mA max.

Detectors

Scintillation counter, 1-dim LYNXEYE

Computer

Build-in

Interfaces

2 × USB ( 500mA ) , 1× LAN

Radiation Level

< 1μSv/ hH * ( 10 )

Sample Motion

Spinner

 

圖一、XRD外觀圖
圖二、XRD內部圖

 

 

固體可分為非晶質與晶質兩種。非晶質固體如玻璃,其原子無規則有序的排列結構;相對來說,另一種固體其內部原子、分子或離子在立體空間中,呈規則且重複排列,符合此條件即為具晶質的固體。晶質固體可透過 X-ray 繞射實驗所得之繞射圖譜判定其內部原子之結構。圖三所示為 NaCl 之面心立方構造晶體 (He, 2009) 。當 X 光以入射角 θ 射至晶格的一平面,繞射峰則產生於符合布拉格條件下 :

nλ =2dsinθ

其中,λ 為 X 光波長; d 為晶格間距 (d-spacing) ; θ 為繞射角度; n 為整數。此方程式意味著布拉格定律成立,並且晶格間距和繞射角度不變時,皆可滿足各不同波長 ( 能量 ) 之 X 光入射情況(圖四),而我們便可利用此項原理來對細顆粒的礦物進行分析。

圖三、 NaCl 面心立方構造晶體圖
圖四 、布拉格定律示意圖

 

 

 

Last modified 01/05/2009 Copyright (c) 2005 Earth Sciences. NCU, All rights reserved.